Dapor

Transport of Energetic Electrons in Solids

Computer Simulation with Applications to Materials Analysis and Characterization

3., Third Edition 2020

Springer International Publishing

ISBN 978-3-030-43264-5

Standardpreis


149,79 €

sofort lieferbar!

Preisangaben inkl. MwSt. Abhängig von der Lieferadresse kann die MwSt. an der Kasse variieren. Weitere Informationen

Bibliografische Daten

eBook. PDF. Weiches DRM (Wasserzeichen)

3., Third Edition 2020. 2020

XIX, 219 p. 67 illus., 2 illus. in color..

In englischer Sprache

Umfang: 219 S.

Verlag: Springer International Publishing

ISBN: 978-3-030-43264-5

Weiterführende bibliografische Daten

Das Werk ist Teil der Reihe: Springer Tracts in Modern Physics

Produktbeschreibung

This book describes, as simply as possible, the mechanisms of scattering (both elastic and inelastic) of electrons with solid targets (electron-atom, electron-plasmon, and electron-phonon interactions). It also presents the main strategies of the Monte Carlo method, as well as numerous comparisons between simulation results and the experimental data available in the literature. Furthermore it provides readers with all the information they need in order to write their own Monte Carlo code and to compare the obtained results with the many numerical and experimental examples presented throughout the book.

An extended and updated third edition of a work published in 2014 (first edition) and in 2017 (second edition) on the application of the Monte Carlo method to the transport of fast electrons in solids, this book includes, as novel topics, the theory of polarized electron beams (i.e. density matrix and spin polarization), the study of elastic scattering by molecules, a classical treatment of the Bethe-Bloch stopping power, a simple derivation of the f- and ps-sum rules, the Vicanek and Urbassek formula for the calculation of the backscattering coefficient, the Wolff theory describing the secondary electron spectra, and fundamental aspects of the interactions between electrons beams and solid targets. Further, it describes a completely analytical approach (the so-called multiple reflection method) for calculating the absorbed, backscattered, and transmitted fractions of electrons from unsupported and supported thin films. It also discusses recent applications of the Monte Carlo method.

Autorinnen und Autoren

Produktsicherheit

Hersteller

Springer Nature Customer Service Center GmbH

ProductSafety@springernature.com

Topseller & Empfehlungen für Sie

Ihre zuletzt angesehenen Produkte

Rezensionen

Dieses Set enthält folgende Produkte:
    Auch in folgendem Set erhältlich:

    • Produktempfehlungen personalisieren

      Ihre Vorteile:

      • Empfehlungen basierend auf ihren Interessen
      • Zeitersparnis durch passende Vorschläge

      Mehr informationen zu , , und

      Die ersten personalisierten Empfehlungen erhalten Sie nach zwei bis drei Klicks.

      Sie können diese Zustimmung zu einem späteren Zeitpunkt unproblematisch über die Datenschutz-Einstellungen wieder zurückziehen.

      nach oben

      Ihre Daten werden geladen ...