Kuntman / Özenli / Kaçar

Reliability of CMOS Analog ICs

Springer

ISBN 978-3-031-85457-6

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Bibliografische Daten

Fachbuch

Buch. Softcover

2026

51 s/w-Abbildungen, 13 Farbabbildungen.

In englischer Sprache

Umfang: xii, 94 S.

Format (B x L): 15,5 x 23,5 cm

Verlag: Springer

ISBN: 978-3-031-85457-6

Weiterführende bibliografische Daten

Das Werk ist Teil der Reihe: Analog Circuits and Signal Processing

Produktbeschreibung

This book presents recent advances in reliability investigation of MOS transistors and their applications. Theory and experimental results are discussed, in order to demonstrate the efficacy of the techniques presented. Readers will be enabled to improve their designs in application areas of analog signal processing, ranging from very low frequencies at several Hz levels of biomedical signals to RF applications operating at GHz level, from EEG signals to cognitive radio and encrypted communications or low-noise amplifiers in wireless communications.

Autorinnen und Autoren

Produktsicherheit

Hersteller

Springer Nature Customer Service Center GmbH

Europaplatz 3
69115 Heidelberg, DE

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