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Murakami / Ishihara

Resonant X-Ray Scattering in Correlated Systems

Springer Berlin Heidelberg

ISBN 978-3-662-53227-0

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Bibliografische Daten

eBook. PDF

2016

VII, 241 p. 151 illus., 25 illus. in color..

In englischer Sprache

Umfang: 241 S.

Verlag: Springer Berlin Heidelberg

ISBN: 978-3-662-53227-0

Weiterführende bibliografische Daten

Das Werk ist Teil der Reihe: Springer Tracts in Modern Physics

Produktbeschreibung

The research and its outcomes presented here is devoted to the use of x-ray scattering to study correlated electron systems and magnetism. Different x-ray based methods are provided to analyze three dimensional electron systems and the structure of transition-metal oxides. Finally the observation of multipole orderings with x-ray diffraction is shown.

Autorinnen und Autoren

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