Ankündigung Grafik für das Drucken der Seite Abbildung von Oh / Siu | Static Analysis | 1. Auflage | 2025 | beck-shop.de

Oh / Siu

Static Analysis

32nd International Symposium, SAS 2025, Singapore, Singapore, October 13–14, 2025, Proceedings

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Fachbuch

Buch. Softcover

2025

Springer. ISBN 978-3-032-07105-7

Format (B x L): 15,5 x 23,5 cm

Das Werk ist Teil der Reihe: Lecture Notes in Computer Science

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