Abbildung von Post / Fraunhofer ISE | Assessment and Application of Defect Characterization via Lifetime Spectroscopy in High Purity C-Si. | 1. Auflage | 2023 | beck-shop.de

Post / Fraunhofer ISE

Assessment and Application of Defect Characterization via Lifetime Spectroscopy in High Purity C-Si.

Fraunhofer IRB Verlag

ISBN 978-3-8396-1917-9

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Bibliografische Daten

Fachbuch

Buch. Softcover

2023

Umfang: 172 S.

Format (B x L): 14.5 x 20.5 cm

Gewicht: 246

Verlag: Fraunhofer IRB Verlag

ISBN: 978-3-8396-1917-9

Weiterführende bibliografische Daten

Das Werk ist Teil der Reihe: Solare Energie- und Systemforschung

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Fraunhofer IRB Verlag

irb@irb.fraunhofer.de

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